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光谱椭偏仪你知道多少呢?

  椭偏仪的适用样品范围很广,紫外至近红外波段透过半透过等材料都不在话下,也就是可以表征绝大部分的半导体和介电薄膜材料,甚至厚度在几十纳米以下的金属薄层也是囊中之物。
  椭偏仪可以直接测量样品折射率和消光系数,也就是光的吸收强度;
  在此基础上,我们可以鉴定样品的组分和带隙;
  最后通过与强大的软件分析相结合,样品信息如厚度、粗糙度、均匀度、孔隙率、电导率等,在椭偏仪面前一览无余。
  SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量,支持多角度,微光斑,可视化调平系统等高兼容性灵活配置,多功能模块定制化设计。
  二、光谱椭偏仪产品特点
  1.采用高性能进口复合光源,光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm),可支持扩展紫外到近红外范围 (193-2500nm)
  2.  高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置,实现Psi/Delta光谱数据高速采集;
  3. 支持系列配置灵活,可根据不同应用场景支持多功能模块化定制;
  4. 数百种材料数据库、多种算法模型库,涵盖了目前绝大部分的光电材料;
  广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。
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